低功率受激辐射损耗超分辨显微成像技术研究进展及展望
摘要:受激辐射损耗(STED)是一种功能强大的远场超分辨显微成像技术,已被广泛用于细胞和组织切片等生物样品的超分辨成像。通过增加损耗激光的功率可以显著提高STED 超分辨成像的空间分辨率和成像深度,然而,过高的激光功率会引起严重的光漂白及光毒性。因此,如何在保证成像质量的同时有效降低STED 超分辨成像所需的损耗激光强度,是目前STED 技术在生物成像领域面临的关键挑战。本文从STED 成像的基本原理出发,分别从STED 探针、单分子定位、图像处理和时间分辨探测等4 个方面探讨了实现低功率STED 超分辨成像的策略。针对以上4 种策略及其优缺点的深入分析,为STED 技术在生物学领域的应用提供了有价值的参考和指导。