高端电子制造中电镀铜添加剂作用机制研究进展
吴依彩,毛子杰,王翀,刘欲文,陈胜利,蔡文斌
摘要:铜互连电镀是芯片等高端电子器件制造的核心技术之一, 明晰相关镀铜添加剂的作用机制将促进先进铜互连技术的发展。本文针对硫酸镀铜体系, 侧重从方法学角度总结了加速剂、抑制剂、整平剂三类添加剂的界面吸附结构以及在电镀填铜过程中的微观作用机制, 分析讨论了不同研究方法的特点与局限性, 并归纳了芯片互连电镀过程中存在的科学问题, 为先进制程芯片电镀添加剂的研发提供参考。
关键词:电子制造, 电镀铜, 添加剂, 超级填充
目录介绍
1 引言
2 电镀铜填孔模型
3 电化学分析的应用
3.1 经典电化学方法
3.2 先进电化学方法
4 谱学及扫描探针技术的应用
4.1 核磁共振谱
4.2 质谱
4.3 扫描探针显微术
4.4 振动光谱
5 总结与展望
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