宽禁带半导体碳化硅基核辐射探测器研究进展
杜青波,杨亚鹏,高旭东,张智,赵晓宇,王惠琦,刘轶尔,李国强(中国辐射防护研究院)
摘要:碳化硅(SiC)半导体材料具有宽禁带、大晶体原子离位阈能及高电子空穴迁移速率等众多突出优势,基于其研制的SiC核辐射探测器具有耐高温、抗辐照、体积小、响应快等优点。高质量、大尺寸SiC晶体材料与外延生长技术及器件制备工艺的不断提升,极大地促进了SiC基核辐射探测器的发展。本文从SiC核辐射探测器的原理及性能评价指标入手,分析了辐射探测时SiC材料与各种辐射粒子相互作用的方式、主要性能指标,以及主要性能指标与SiC晶体缺陷等的关系,并基于SiC晶体的物理性质,总结对比了探测器级SiC晶体衬底制备和外延生长的方法,重点介绍了SiC带电粒子探测器、中子探测器、X/γ探测器的最新研究进展,分析了SiC基核辐射探测器发展面临的挑战,为提高SiC基核辐射探测器的性能提供了参考。
关键词:碳化硅;宽禁带半导体;半导体核辐射探测器;单晶生长;外延生长
目录介绍
0 引言
1 碳化硅核辐射探测器的原理及性能评价指标
1. 1 碳化硅核辐射探测器的原理
1. 2 碳化硅材料缺陷对探测器性能的影响
1. 3 主要性能评价指标
2 碳化硅的性质与制备
2. 1 碳化硅的物理性质
2. 2 探测器级SiC材料的制备
3 碳化硅基核辐射探测器的研究进展
3. 1 碳化硅带电粒子核辐射探测器
3. 2 碳化硅中子探测器
3. 3 碳化硅X、γ核辐射探测器
4 结语与展望
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