单硅烯和锗烯的热电输运特性研究
李耑,刘远超,刘新昊,李梓硕,常乐涛,李博涵(北京石油化工学院机械工程学院)
摘要:基于密度泛函理论和声子Boltzmann输运理论,对比研究了单层硅烯和单层锗烯的热电输运特性,深入探讨了二者的声子与电子输运机理。研究结果表明:单层硅烯和单层锗烯热输运特性的各向异性不明显,室温下单层硅烯和单层锗烯X方向的晶格热导率分别为9.8wW(m·K)和2.1W/(m·K);电输运各向异性明显,二者均为直接带隙半导体,且电子能带隙十分狭窄(分别为0.019eV和0.002eV),展现出Dirac特性。室温下单层硅烯最大热电优值ZTX和ZTY分别为0.58和0.67,单层锗烯最大热电优值ZTX和ZTY分别为0.41和0.67。研究结果可为基于硅烯和锗烯的热电设计提供理论依据和参考,未来可以通过施加应变等方法进一步对二者热电性能进行调控。
关键词:纳米材料;硅烯;锗烯;密度泛函理论;第一性原理;热电特性
目录介绍
0 引言
1 模型和方法
2 结果与分析
2.1 热输运特性
2.2 电输运特性
2.3 热电输运特性
3 结论
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